
三星电子副总裁:现有热压缩键合无法满足 20Hi HBM 内存生产需求

▲KimDae-Woo
负责连接各层DRAMDie的键合工艺在HBM的制造中起到举足轻重的作用,传统TCB包含凸块结构,这影响了进一步的间距压缩同时拥有更高热阻。根据三星电子给出的数据,无凸块的混合键合(HCB)可将堆叠层数提高至多1/3、热阻降低至多20%。▲三星电子HBM键合技术转型规划图源三星电子,引自ZDNETKorea
三星电子将16层堆叠视为HBM内存键合技术从TCB转向HCB的关键节点,这大致对应HBM4E内存世代,到HBM5混合键合将实现全面应用。